5月11日上午，重庆大学分析测试中心张斌副研究员应邀到物理与电子工程学院开展学术交流活动，并作题为“层状硫系化合物透射电镜研究与启发”的学术报告。相关课题组师生参加，交流会由物电学院李万俊教授主持。
在报告中，张斌副研究员展现了先进电子显微技术在微结构研究中的关键作用。他详尽地阐述了如何利用电子显微分析技术，揭示了GaSe、SnSe等材料表面氧化行为的独特现象；他还介绍了他自主研发的显微图像分析方法成功实现了对Ge2Sb2Te5、GeSb2Te4等材料原子尺度微结构的精准、定量及可视化研究，为相关领域的深入研究提供了宝贵的工具和见解。报告结束后，与会师生就张斌副研究员所展示的先进测试技术、创新实验方法展开了热烈的讨论。张斌副研究员耐心细致地解答了大家提出的问题，并分享了自己在科研工作中的心得与体会。报告会现场学术氛围浓郁，热烈交流，思维碰撞，共同探索科学前沿。
此次学术交流不仅拓展了与会师生学术视野，还加强了学院与国内其他高校之间的学术交流与合作，对学院学科建设、人才培养等方面都具有积极推动作用。
图为：学术交流会现场
据悉，张斌副研究员，长期从事电子显微学与材料微结构分析工作。以第一/通讯作者发表高水平论文30余篇，其他合作论文150余篇，其中高质量的显微数据分析支持了Nature、NatureMaterials、NatureCommunication、PRL、Adv.Mater、JACs等众多顶级期刊工作的发表；已授权国家发明专利3项；主持国自然青年、重庆市教委青年、重庆大学仪器设备功能开发等基金项目。获中国分析测试协会科学技术(CAIA)一等奖(2020年，排名第2/10)；首届中国高校分析测试优秀青年人才二等奖(2021年)；首届重庆市卓越工程师大赛优胜奖(2022年)等荣誉。
一审一校：高俊逸，二审二校：赵和平，三审三校：杨 云
